改進(jìn)您的清潔度分析流程對(duì)于汽車制造商和汽車零部件供應(yīng)商來(lái)說(shuō)，在整個(gè)工作流程中快速獲得準(zhǔn)確可靠的清潔度分析結(jié)果將會(huì)是一項(xiàng)巨大的優(yōu)勢(shì)。在進(jìn)行這項(xiàng)質(zhì)量控制任務(wù)時(shí)，通常要使用來(lái)自多家廠商的多種儀器來(lái)進(jìn)行分析。因此，pall 公司和徠卡公司共同努力，攜手推出來(lái)自“單一來(lái)源”的成套清潔度分析解決方案?？蛻艨梢詮恼w解決方案中獲得優(yōu)勢(shì)，同時(shí)得到來(lái)自徠卡和 pall 專家們的建議，從而實(shí)現(xiàn)流程優(yōu)化，并得以持續(xù)保持。
徠卡dm4 m&徠卡dm6 m正置工業(yè)測(cè)量顯微鏡作為清潔度檢測(cè)顯微鏡不僅可滿足快快速概覽樣品和詳細(xì)檢查樣品的需求，*，可靠的記憶功能可即時(shí)復(fù)制成像參數(shù)，輕松搞定重復(fù)性工作
使用“二合一法”解決方案進(jìn)行清潔度分析在汽車和運(yùn)輸、微電子、制造和醫(yī)療器械等行業(yè)中，產(chǎn)品及其組件的性能和使用壽命非常容易受到污染的影響。
徠卡 dm6 m libs 材料分析解決方案 (參考圖 1) 等二合一解決方案將光學(xué)顯微術(shù) (目視分析) 和激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (libs) (化學(xué)分析) 相結(jié)合。與掃描電鏡檢查法 (sem) 和能量色散譜 (eds) 等其他方法進(jìn)行比較，在高效清潔度分析中占據(jù)著優(yōu)勢(shì)。
查找和消除污染源更輕松
對(duì)于技術(shù)清潔度，最終目標(biāo)是查找和消除污染源。二合一解決方案可以用更少的時(shí)間和精力識(shí)別污染源，因?yàn)榍鍧嵍确治隽鞒痰玫搅撕?jiǎn)化。
與使用掃描電鏡檢查法 (sem) 和能量色散譜 (eds) 進(jìn)行分析的不同之處在于:
> 無(wú)需樣品制備；
> 無(wú)需將樣品從一個(gè)設(shè)備傳輸?shù)搅硪粋€(gè)設(shè)備；
> 無(wú)需在濾片上重新定位感興趣區(qū)域，也無(wú)需進(jìn)行系統(tǒng)調(diào)節(jié)；
> 無(wú)需損失等待真空的時(shí)間 (分析始終在大氣條件下的空氣中進(jìn)行)
“二合一法”解決方案:顆粒成像和構(gòu)成分析
以下圖2所示為使用徠卡dm6 m libs解決方案對(duì)濾片上的顆粒進(jìn)行可視和化學(xué)分析的示例。
圖 2：使用 dm6 m libs 二合一解決方案執(zhí)行清潔度分析:
a) 檢測(cè)、統(tǒng)計(jì)和測(cè)量濾片上的顆粒；
b) 如果是金屬顆粒，選擇適當(dāng)?shù)膶?duì)比度方法可以看到顆粒的反射光；
c) 激光追蹤 ( 紅色十字準(zhǔn)線) 濾片上檢測(cè)到的顆粒，以運(yùn)用 libs 進(jìn)行化學(xué)分析；
d) 來(lái)自 libs 的元素譜清楚地表明該顆粒由鋁 (al) 組成。
雙重高效的總體清潔度工作流程
對(duì)于整個(gè)清潔度工作流程，往往要使用多個(gè)供應(yīng)商提供的多種儀器來(lái)執(zhí)行顆粒提取和分析。從顆粒提取到分析，在整個(gè)流程中使用來(lái)自“單一源”的一種清潔度解決方案更加方便。徠卡公司和 pall 公司共同努力為汽車和運(yùn)輸行業(yè)提供了這樣一種*而全面的清潔度解決方案。您可在下面的圖 3 中看到使用 pall 清洗柜和徠卡 dm6 m libs 二合一解決方案的整體清潔度工作流程。
整套解決方案的優(yōu)勢(shì)在于更容易達(dá)到清潔度分析的最終目標(biāo):：
> 測(cè)定顆粒導(dǎo)致?lián)p壞的潛在可能性；
> 找到并消除對(duì)產(chǎn)品性能和使用壽命構(gòu)成嚴(yán)重威脅的污染源。
圖 3：符合 vda19 且有效的汽車行業(yè)整體清潔度工作流程：
從濾片顆粒提取和保留 （pall 清洗柜） 到可視和化學(xué)分析（徠卡 dm6 m libs 二合一解決方案）。
目標(biāo)旨在更快地找到危險(xiǎn)顆粒污染源并消除它們。
清潔度分析流程– 步驟
零件/組件制備零件類型、需要的方法制備方法取決于零件或組件類型以及要分析的樣品大小。根據(jù)零件特性和樣品大小最終確定解決方案。
提取/過濾攪拌、零件清洗、超聲波處理、測(cè)試臺(tái)通過噴涂、清洗或超聲波處理等方式，從零部件中提取污染物顆粒。隨后，讓清潔溶液流經(jīng)過濾器(過濾器類型取決于清潔的部件)，顆粒則會(huì)留在薄膜上用于分析。pall 提供不同規(guī)格的清洗柜和過濾器可用于過濾處理步驟。經(jīng)過干燥后，對(duì)過濾器進(jìn)行評(píng)估。
顆粒分析檢測(cè)、定量、分類根據(jù)顆粒大小和類型，對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)、定量和分類，判斷其可能引起的潛在破壞性。使用復(fù)合或數(shù)字顯微鏡和清潔度軟件模塊，同時(shí)借助徠卡清潔度檢測(cè)顯微鏡分析解決方案完成這些任務(wù)。
檢查結(jié)果iso 16232 和 vda19仔細(xì)復(fù)查分析結(jié)果，確定是否存在任何具有潛在破壞性的顆粒。金屬顆粒的潛在破壞性更高，而徠卡成像解決方案能夠自動(dòng)識(shí)別金屬顆粒。這些具有潛在破壞性的顆粒會(huì)影響組件的使用壽命，甚至還會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)故障。
響應(yīng)采取對(duì)應(yīng)措施借助全面清潔度分析得到的結(jié)果，使工作流程逐步得到優(yōu)化。然后識(shí)別具有潛在破壞性的顆粒，確定并消除污染源。在清潔度檢測(cè)顯微鏡分析下，目標(biāo)在于不斷改進(jìn)清潔度分析過程，進(jìn)而消除和減少污染。
關(guān)鍵詞：顯微鏡