的標(biāo)準(zhǔn)
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本標(biāo)準(zhǔn)等同采用電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)iec 68-2-32（1975年第二版）《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ed：自由跌落》、1982年的*次修改和1990年的第二次修改。
這樣，使這項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)與標(biāo)準(zhǔn)相同，以適應(yīng)貿(mào)易、技術(shù)和經(jīng)濟(jì)交流的需要。
本標(biāo)準(zhǔn)代替gb 2423.8—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)ed：自由跌落試驗(yàn)方法》和gb 2424.6—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 自由跌落試驗(yàn)導(dǎo)則》。
gb 2423.8—81和gb 2424.6—81是參照iec 68-2-32（1975年第二版）《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ed：自由跌落》起草的。
本標(biāo)準(zhǔn)在技術(shù)內(nèi)容、編寫格式和規(guī)則上都與iec 68-2-32（1975）、1982年的*次修改文本，1990年的第二次修改文本*相同。本標(biāo)準(zhǔn)與前版的主要區(qū)別在于：
──將gb 2423.8和gb 2424.6兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)合并成一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)gb/t 2423.8；
──按iec 68-2-32，1982年和1990年的兩次修改，對(duì)方法二和附錄a作了修改，補(bǔ)充了附錄b。
下列四項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)與本標(biāo)準(zhǔn)均屬撞擊試驗(yàn)范疇，有關(guān)規(guī)范應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的使用和運(yùn)輸?shù)木唧w情況選擇合適的試驗(yàn)方法。
──gb/t 2423.5—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ea和導(dǎo)則：沖擊；
──gb/t 2423.6—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)eb和導(dǎo)則：碰撞；
──gb/t 2423.7—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）；
──gb 2423.39—90 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)ee：彈跳試驗(yàn)方法。