5大因素可影響涂層測厚儀：ec770 dt-156/156h/157等等1.不同鍍層材料引進(jìn)的誤差通常被測鍍層材料有銅、鋁、鉻等,它們的相對磁導(dǎo)率分別為0.99992、1.000008和1.000045。顯然,都取為1是相當(dāng)?shù)摹Ｒ虼?它們之間的差異不會引進(jìn)測量誤差。另外,只要合理選擇激勵頻率f(儀器設(shè)計時選定),電導(dǎo)率叮的影響是可以得到控制的。
2.粗糙度的影響由于被測件基底和被測表面粗糙度的變化,使測量結(jié)果相差懸殊,因而不能得到真實的鍍層厚度值。我們作了幾組試驗,分別示于圖1、圖2
試驗結(jié)果表明,當(dāng)被測基底和被測表面粗糙度rz值在6.3拜m(包括6.3戶m)以下時,對被測結(jié)果的影響可以忽略不計;當(dāng)粗糙度r。值在6.3尸m以上時,對被測結(jié)果有明顯的影響。對于刀痕較寬的被測表面,其測量結(jié)果受測點(diǎn)位置的影響很大。對這樣的被測件,取4一5個測點(diǎn)的平均值作為測量結(jié)果,可以相對地減小其影響。表面粗糙度不同,直接改變了磁路間隙的大小。粗糙度數(shù)值越大,氣隙越大,增大了線圈到基底的距離,所以測量值增大。反之,測量值減小,更接近鍍層的真實厚度
3.被測基底厚度的影響校對儀器時采用的基底厚度多是較大的,而被測件的基底厚度一般變化較大。當(dāng)被測件基底厚度大寸;iomm時,其厚度變化對測量結(jié)果的影響可以忽略不計。當(dāng)基底厚度小j二10mm時.其影響就不能忽略,特別是小于3mm時,其影響已可超出測量值的5%。因此,在測量較薄的工件時,必須用和被測基底厚度相當(dāng)?shù)幕仔x器。這是因為,當(dāng)工件較薄時,渦流效應(yīng)大大降低,使測量結(jié)果的數(shù)值明顯加大。為了解決上迷問題,可以將薄的被測件放在較厚的基底上測量。實踐表明,這樣作就可以避免渦流效應(yīng)的影響
4.曲率半徑的影響渦流測厚儀使用的校對樣板和校對時用的基底多為平面型,被測件表面往往不是平面,而是外圓面或內(nèi)孔面。這樣的彎曲表面對測量結(jié)果有很大的影響。這主要是由于改變了測頭(線圈)和被測表面空氣間隙。為此,使測頭沿軸向母線測量,可以得到較滿意的測量結(jié)果。但是,當(dāng)曲率半徑較小時,為提高測量結(jié)果的準(zhǔn)確度,應(yīng)當(dāng)根據(jù)所用測頭的具體情況,做必要的試驗才成。在仲裁檢測時,尤其應(yīng)當(dāng)如此。如我們?yōu)槊禾疾框炇盏聡M(jìn)口的液壓支架時,預(yù)先按被測件曲率半徑尺寸作了校對件,使驗收工作收到了滿意的結(jié)果。
5.被測部位的影響試驗表明,測量部位不同,測量結(jié)果的數(shù)值就不同,如靠近邊緣處和棱角處,由于磁路截面減小,渦流效應(yīng)降低,測量結(jié)果數(shù)值增大。所以,應(yīng)當(dāng)避免在靠近邊緣和棱角處測量。
5大因素可影響涂層測厚儀：ec770 dt-156/156h/157等等1.不同鍍層材料引進(jìn)的誤差通常被測鍍層材料有銅、鋁、鉻等,它們的相對磁導(dǎo)率分別為0.99992、1.000008和1.000045。顯然,都取為1是相當(dāng)?shù)摹Ｒ虼?它們之間的差異不會引進(jìn)測量誤差。另外,只要合理選擇激勵頻率f(儀器設(shè)計時選定),電導(dǎo)率叮的影響是可以得到控制的。
2.粗糙度的影響由于被測件基底和被測表面粗糙度的變化,使測量結(jié)果相差懸殊,因而不能得到真實的鍍層厚度值。我們作了幾組試驗,分別示于圖1、圖2
試驗結(jié)果表明,當(dāng)被測基底和被測表面粗糙度rz值在6.3拜m(包括6.3戶m)以下時,對被測結(jié)果的影響可以忽略不計;當(dāng)粗糙度r。值在6.3尸m以上時,對被測結(jié)果有明顯的影響。對于刀痕較寬的被測表面,其測量結(jié)果受測點(diǎn)位置的影響很大。對這樣的被測件,取4一5個測點(diǎn)的平均值作為測量結(jié)果,可以相對地減小其影響。表面粗糙度不同,直接改變了磁路間隙的大小。粗糙度數(shù)值越大,氣隙越大,增大了線圈到基底的距離,所以測量值增大。反之,測量值減小,更接近鍍層的真實厚度
3.被測基底厚度的影響校對儀器時采用的基底厚度多是較大的,而被測件的基底厚度一般變化較大。當(dāng)被測件基底厚度大寸;iomm時,其厚度變化對測量結(jié)果的影響可以忽略不計。當(dāng)基底厚度小j二10mm時.其影響就不能忽略,特別是小于3mm時,其影響已可超出測量值的5%。因此,在測量較薄的工件時,必須用和被測基底厚度相當(dāng)?shù)幕仔x器。這是因為,當(dāng)工件較薄時,渦流效應(yīng)大大降低,使測量結(jié)果的數(shù)值明顯加大。為了解決上迷問題,可以將薄的被測件放在較厚的基底上測量。實踐表明,這樣作就可以避免渦流效應(yīng)的影響
4.曲率半徑的影響渦流測厚儀使用的校對樣板和校對時用的基底多為平面型,被測件表面往往不是平面,而是外圓面或內(nèi)孔面。這樣的彎曲表面對測量結(jié)果有很大的影響。這主要是由于改變了測頭(線圈)和被測表面空氣間隙。為此,使測頭沿軸向母線測量,可以得到較滿意的測量結(jié)果。但是,當(dāng)曲率半徑較小時,為提高測量結(jié)果的準(zhǔn)確度,應(yīng)當(dāng)根據(jù)所用測頭的具體情況,做必要的試驗才成。在仲裁檢測時,尤其應(yīng)當(dāng)如此。如我們?yōu)槊禾疾框炇盏聡M(jìn)口的液壓支架時,預(yù)先按被測件曲率半徑尺寸作了校對件,使驗收工作收到了滿意的結(jié)果。
5.被測部位的影響試驗表明,測量部位不同,測量結(jié)果的數(shù)值就不同,如靠近邊緣處和棱角處,由于磁路截面減小,渦流效應(yīng)降低,測量結(jié)果數(shù)值增大。所以,應(yīng)當(dāng)避免在靠近邊緣和棱角處測量。
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